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时代膜厚仪技术参数
点击次数:2040 更新时间:2011-05-25

涂层膜厚仪——技术参数表:

测头类型
N
测量原理
电涡流
测量范围
0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力
1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式
一体化
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1.5]
两点校准(um)
±[(1%~3%)H+1.5]
测量条件
zui小曲率半径(mm)
凸3    凹10
基体zui小面积的直径(mm)
ф5
zui小临界厚度(mm)
0.3
温湿度
 
0~40℃
20%RH~90%RH
 
统计功能
平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
工作方式
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置
存储能力
15 个测量值
打印/连接计算机
可选配打印机/不能连接电脑
关机方式
自动
电源
二节3.6V镍镉电池
外形尺寸
150×55.5×23mm
重量
150g

涂层膜厚仪——标准配置:
  主机

z标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
z铁基体
z充电器
 

涂层膜厚仪——执行标准:

是一种超小涂层膜厚仪型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。 技术:    欢迎您的来电来函咨询,葫芦娃视频免费下载官网将竭诚为您服务

  GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
 
  J B/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

  JG 818─93 《电涡流式测厚仪》

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